Крупное оборудование химического факультета

Комплекс атомно-силовой и поляризационной микроскопии NT-MDT NTEGRA Spectra II – POM

Статья, иллюстрирующая возможности оборудования:
https://istina.msu.ru/publications/article/305318494/

Место размещения прибора:

Установка позволяет изучать поверхности объектов (пленок, покрытий, обладающих наноструктурой) с высоким разрешением методом атомно-силовой микроскопии (АСМ) – выявлять распределение напряжений, дислокаций, измерять степень дефектности структурного порядка, исследовать оптические и спектральные свойства разнообразных композитных материалов и биообъектов. Установка позволяет соотносить топографию поверхностей исследуемых образцов и пленок с поляризационно-оптическими микроизображениями (ПОМ). Использование данного прибора позволяет изучать структурные превращения в пленках фотохромных систем, индуцированных светом сильно-сфокусированных пучков лазеров разной длины волны (532 нм и 633 нм). Подобная уникальная конструкция позволяет осуществлять целенаправленную модификацию топографии и рельефа поверхности за счет создания разнообразных по размеру и форме наноструктур на поверхности изучаемых фотохромных пленок и микро-, нанообъектов.

Ответственный сотрудник:
Бобровский Алексей Юрьевич
https://istina.msu.ru/profile/Bobrovsky365/

Основные операторы оборудования
Баленко Николай Витальевич
https://istina.msu.ru/profile/Nikolai_Balenko/

Для подачи заявки на выполнение исследований на приборе
ЗАПОЛНИТЕ ФОРМУ

Карточка прибора в системе Истина

Источник финансирования для приобретения оборудования:
Проект "Наука и университеты"

Категории прибора
   #Микроскоп       #Атомно-силовой микроскоп